三温测试箱高低温冲击系统

-70~180℃,满足车规级测试标准,为半导体器件提供高低温贮存、工作及温度循环测试

提供气体制冷机与直冷机两种技术路线,满足芯片封装后测试(FT)、晶圆级测试(CP)及可靠性验证中的快速高低温冲击需求。

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